Los campos electromagnéticos y los voltajes inducidos al interior de estructuras impactadas por rayos son una de las principales causas de daño de los equipos electrónicos afectan los procesos y ponen en riesgo la seguridad de las personas. Por lo tanto, para la selección adecuada de las medidas de protección contra rayos así como para el diseño de los sistemas de protección debe utilizarse una herramienta computacional suficientemente eficiente y precisa que permita evaluar los campos electromagnéticos y los voltajes inducidos en diferentes zonas al interior de la estructura donde podría existir algún riesgo para la seguridad de las personas o los equipos.
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